產(chǎn)品時(shí)間：2023-12-06
訪(fǎng)問(wèn)量：482
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | 其他品牌 |
|---|
渦流測厚儀 型號：TX20-ED400
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
渦流測厚儀 型號：TX20-ED400
技術(shù)參數
測量范圍： 0～500 μm
測量精度： 0～50 μm：±1 μm；
50～500 μm：±2%
分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；
50～500 μm：1 μm；
0～500 μm：1 μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm
重量： 280 g
渦流測厚儀 型號：TX20-ED400
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
渦流測厚儀 型號：TX20-ED400
技術(shù)參數
測量范圍： 0～500 μm
測量精度： 0～50 μm：±1 μm；
50～500 μm：±2%
分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；
50～500 μm：1 μm；
0～500 μm：1 μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm
重量： 280 g
